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二次離子質(zhì)譜儀常見的幾種操作模式您都了解嗎?

更新時(shí)間:2021-08-17瀏覽:1628次

  二次離子質(zhì)譜儀可以用于分析的樣品可以固體,也可以是粉末、纖維、塊狀、片狀、甚至液體(微流控裝置)。如果從導(dǎo)電性考慮,這些樣品可以是導(dǎo)電性好的材料,也可以是絕緣體或者半導(dǎo)體。從化學(xué)組成上來分,可以是有機(jī)樣品,如高分子材料、生物分子,也可以是無機(jī)樣品,如鋼鐵、玻璃、礦石等。
 
  二次離子質(zhì)譜儀的常見的操作模式:
 
  SIMS大致可以分為"動態(tài)二次離子質(zhì)譜"(D-SIMS)"和"靜態(tài)二次離子質(zhì)譜"(S-SIMS)兩大類。雖然工作原理上它們并無本質(zhì)差別,但是兩種模式的應(yīng)用特點(diǎn)卻有所不同。一次離子束流密度大小是劃分兩種模式的主要標(biāo)準(zhǔn)。一般在S-SIMS模式下,一次離子束流被控制在10離子/cm,常用飛行時(shí)間質(zhì)量分析器,動態(tài)二次離子質(zhì)譜就是一次離子束流高于10離子/cm,常用雙聚焦質(zhì)量分析器。
 
  SIMS操作模式可以分為質(zhì)譜表面譜、成像模式、深度剖析等。 其中質(zhì)譜模式質(zhì)量分辨率較高,常用于鑒別各種材料中所含有的元素、材料中的摻雜、污染物中的成分等。二次離子質(zhì)譜成像是指二次離子在二維平面上的強(qiáng)度分布,可以直觀的顯示成分的分布,獲得元素離子、分子碎片或分子離子的形貌。深度剖析是指交替式地對分析樣品表面濺射剝離和對濺射區(qū)域采集圖譜,從深度剖析結(jié)果中可以得到不同成分沿深度方向的分布,可以得到樣品深層或內(nèi)部化學(xué)成分的三維圖像,可以進(jìn)行對材料或者生物組織微區(qū)成分分析。

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