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吸附分析儀器

簡要描述:XEMIS是一款高精度的吸附微量天平,用于環(huán)境下的精密測量。它可作為微量天平單獨使用,也可作為完整的吸附分析儀器。XEMIS有著出色的靈活性以及的稱量精度和穩(wěn)定性。

XEMIS微量天平采用了Hiden Isochema*的外部感知技術,可在高溫、高壓條件下進行重量吸附分析,也可與其他商業(yè)化的吸附微量天平儀器聯(lián)用。

  • 產(chǎn)品型號:XEM
  • 廠商性質:代理商
  • 更新時間:2024-03-22
  • 訪  問  量:2342
詳細介紹
品牌其他品牌應用領域醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè)

  XEMIS是一款高精度的吸附微量天平,用于環(huán)境下的精密測量。它可作為微量天平單獨使用,也可作為完整的吸附分析儀器。XEMIS有著出色的靈活性以及的稱量精度和穩(wěn)定性。 XEMIS微量天平采用了Hiden Isochema*的外部感知技術,可在高溫、高壓條件下進行重量吸附分析,也可與其他商業(yè)化的吸附微量天平儀器聯(lián)用。

產(chǎn)品特點

  1. 外部感知技術,把敏感元件置于天平室外部,允許腐蝕性和易燃氣體的操作

  2. 幾何對稱、精密設計的微量天平

  3. 內部容積小化

  4. 大容量微量天平(5克),分辨率0.2μg和長期穩(wěn)定性±5μg

  5. 寬動態(tài)稱量范圍(0-200毫克)

  6. 操作壓力高達200bar

  7. 單獨的反應器可進行從77 K到773 K的全溫度范圍測量

  8. 無需重新歸零或原位校準

  9. 采用IGA*的終點預測方法

  10. 全金屬結構由高品質的VCR裝配

  11. 模塊化設計,與所有配件兼容且可升級

 
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