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產(chǎn)品展示
  • TOF-qSIMS飛行時間二次離子質(zhì)譜儀
    TOF-qSIMS飛行時間二次離子質(zhì)譜儀設(shè)計用于多種材料的表面分析和深度剖析應用,包括聚合物,藥物,超導體,半導體,合金,光學和功能涂層以及電介質(zhì),檢測限低于1ppm。
    時間:2023-11-22型號:TOF-qSIMS瀏覽量:10931
  • EQS二次離子質(zhì)譜儀
    離子分析質(zhì)譜儀/飛行時間二次離子質(zhì)譜儀可分析來自固體樣品的二次陰、陽離子和中性粒子。采用技術(shù)的SIMS 探針,便于連結(jié)到現(xiàn)有的UHV表面科學研究反應室。
    時間:2023-11-22型號:EQS瀏覽量:5747
  • SIMS Workstation二次離子質(zhì)譜儀
    二次離子質(zhì)譜儀適合做多層薄膜的深度分析,可以做元素成像和混合模式掃描,自動測量正、負和中性粒子。
    時間:2023-11-22型號:SIMS Workstation瀏覽量:3085
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